На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
advanced search
Английская версия сайта Русская версия сайта
Elemental analysis Molecular analysis Surface analysis and analysis of nanostructures Thermal analysis and rheology Environmental air and stack emission monitoring Industrial process analisys and monitoring
Оптические и стилусные профилометрыРФЭ и Оже-спектрометрыНано-ИК и нано-ТАСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования
Анализ поверхности и наноструктур -

рфэ и оже-спектрометры

В данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.)

Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.

Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высчайшем уровне.

 

Производители
Thermo Fisher Scientific

Ближайшие семинары
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  

Системы сверхвысокого вакуума для электронной спектроскопии (РФЭС, ОЭС, УФЭС) О методе: Фотоэлектронная спектроскопия или РФЭС — это метод изучения строения вещества, основанный на анализе энергетических спектров электронов, полученных в результате фотоэффекта.

По спектру РФЭС можно определить энергию связи электронов, находящихся на различных орбиталях (остовных или валентных). В фотоэлектронной спектроскопии применяется монохроматизированное рентгеновское или ультрафиолетовое излучение с энергией фотонов от десятков тысяч до десятков эВ. Спектр фотоэлектронов регистрируется при помощи электронных спектрометров высокого разрешения (в настоящее время достигнуто разрешение менее десятых долей эВ в рентгеновской области и менее сотых долей эВ в ультрафиолетовой области). Метод фотоэлектронной спектроскопии может использоваться для исследования веществ в газообразном, жидком и твёрдом состоянии и позволяет исследовать валентные или остовные электронные оболочки атомов и молекул, а также уровни энергии электронов в твёрдом теле (структуру валентной зоны). Энергия электронов, находящихся на внутренних уровнях, зависит от химического окружения и типа химической связи, поэтому фотоэлектронная спектроскопия успешно применяется в аналитической химии для определения качественного и количественного состава вещества и в физической химии для исследования особенностей химической связи.

В химии методы электронной спектроскопии также известны под названием ЭСХА — электронная спектроскопия для химического анализа (ESCA — electronic spectroscopy for chemical analysis). Основные приложения метода: качественное определение присутствия химических элементов (все элементы, начиная с Li), анализ химического состояния обнаруженных элементов, исследование зонной структуры, исследование распеределения элементов по глубине (профилирование) и по поверхости (картирование), фазовый состав, анализ примесей и дефектов и др). За дополнительной информацией, пожалуйста, обращайтесь к нашим специалистам!  

Theta Probe

Спектрометр Theta Probe в стандартной конфигурации
РФЭС спектрометр с угловым разрешением. Единственный в мире прибор такого рода с разрешением по глубине 0.1 нм.
K-Alpha+

РФЭС спектрометр K-Alpha+
Полностью интегрированный РФЭС спектрометр последнего поколения.
Nexsa

Новейший автоматизированный фотоэлектронный спектрометр, в котором интегрирован целый ряд аналитических методик для комплексного анализа поверхности и покрытий
Escalab Xi+

Escalab Xi+ - высокопроизводительный комбинированный фотоэлектронный спектрометр с возможностью количественной визуализации
Компоненты для систем, работающих в условиях СВВ

Системные компоненты и аксессуары для приборов представлены различными типами анализаторов, рентгеновских и ультрафиолетовых источников, электронных и ионных пушек, оптикой и дополнительными аксессуарами, что позволяет создать систему, отвечающую любым требованиям.
Multilab 2000

Multilab 2000
Многофункциональный спектрометр для проведения рутинного анализа поверхности
 


страницы:  [ 1 ] [ 2 ]


About usAnalytical equipmentLIMS SolutionsSupportProjectsContactsMap
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design