На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
advanced search
Английская версия сайта Русская версия сайта
Elemental analysis Molecular analysis Surfaces and Nanostructures Thermal analysis and rheology Environmental air and stack emission monitoring Industrial process analisys and monitoring
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

Анализ поверхности и наноструктур

В данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.)

Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.

Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высочайшем уровне.

 

 

Производители
KLA-Tencor

VLSI Standards

Photothermal Spectroscopy Corp

Thermo Fisher Scientific

Asylum Research

Ближайшие семинары
20.11.2018 - 23.11.2018
Обучающий семинар по атомно-абсорбционным спектрометрам
г. Красноярск
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  

Оптические и стилусные профилометры

Оптические и стилусные профилометры. Оптические и стилусные профилометры для анализа поверхности различных материалов и покрытий. Полная линейка оборудования для 2D и 3D анализа поверхности - от недорогих и надёжных стилусных систем до бесконтактных оптических профилометров-интерферометров исследовательского класса. Для ознакомления с полной линейкой метрологического оборудования для полупроводниковой промышленности приглашаем Вас посетить сайт KLA - Tencor Inc. Будем рады помочь с ответом на возникающие вопросы.
Наномеханические испытания

Оборудование KLA-Tencor для наномеханических испытаний обеспечивает надежные результаты в широком динамическом диапазоне с высоким разрешением.
РФЭ и Оже-спектрометры

Системы сверхвысокого вакуума для анализа поверхности с использованием различных видов электронной спектроскопии (РФЭС, ОЭС, УФЭС) ведущего мирового производителя ThermoFisher Scientific (ранее VG Scientific). Системы позволяют проводить полный спектр исследований при помощи методов электронной спектроскопии (качественный и количественный анализ состава поверхности, анализ различных химических состояний, исследование зонной структуры, химическая микроскопия, построение профилей распределения концентраций и т.д.).
Системы микроанализа для электронных микроскопов

Thermo Scientific производит системы микроанализа для электронных микроскопов: ЭДС (EDS), ВДС (WDS), ДОРЭ (EBSD)
Субмикронная ИК-спектроскопия

Cистемы для субмикронной ИК спектроскопии американской фирмы Photothermal Spectroscopy Corp позволяют проводить исследование поверхности, комбинируя наглядность метода атомно-силовой микроскопии с глубокой информативностью инфракрасной спектроскопии, и получать информацию о топографии, механических свойствах и химическом составе образца с микронным пространственным разрешением!

Сканирующая зондовая микроскопия

Атомно-силовые микроскопы - высокотехнологичное диагностическое оборудование для исследования различных свойств поверхности с атомным разрешением. Широкий спектр зондовых методик позволяет получать: распределение элементного состава, топографию (дефектность), электрические и магнитные свойства поверхности на атомном уровне и др., а также их комбинации.

Стандарты для калибровки оборудования для исследования поверхности

Стандарты для калибровки оборудования для определения высоты ступеней, толщины пленок, топографии поверхности, размера частиц, электрических характеристик
Зонды АСМ

Зонды и кантилеверы для атомно-силовых и сканирующих зондовых микроскопов

Виброзащита высокоточного оборудования

Решения для вибрационной защиты высокоточных систем и оборудования от Kinetic Systems. Раздел находится в разработке. По всем вопросам обращайтесь в офисы компании.
 
About usAnalytical equipmentLIMS SolutionsSupportProjectsContactsMap
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design