На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
advanced search
Английская версия сайта Русская версия сайта
Lab equipment Elemental and isotopic analysis Molecular analysis Surfaces and Nanostructures Thermal analysis and rheology Environmental air and stack emission monitoring Industrial process analisys and monitoring

Вебинар по анализаторам толщины пленок и отражающей способности покрытий

Последние новости
[21.04.2021]
Обучающий семинар по АЭС-ИСП
Читать далее»
[15.04.2021]
Вебинар по анализаторам толщины пленок и отражающей способности покрытий
Читать далее»
[05.04.2021]
Выставка "TechnoPark Ural" 20-21 апреля 2021 г.
Читать далее»
[02.04.2021]
Выставка "Аналитика Экспо 2021" 13-16 апреля 2021 г.
Читать далее»
[01.04.2021]
Семинар в Нижнекамске
Читать далее»
[26.03.2021]
Вебинар по наноиндентированию
Читать далее»
[15.03.2021]
Многокомпонентный анализ токсичности дыма. Вебинар
Читать далее»
[04.03.2021]
С наступающим 8 марта!
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
29.06.2021 - 02.07.2021
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
24.05.2021 - 02.06.2021
Обучающий семинар по АЭС-ИСП
г. Санкт-Петербург, ООО "Институт Гипроникель"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 



[15.04.2021]

Вебинар по анализаторам толщины пленок и отражающей способности покрытий

Рефлектометры

Приглашаем принять участие в вебинаре «Рефлектометрия – метод определения толщины пленок и отражающей способности покрытий: решения KLA», который состоится в среду, 21 апреля, в 11.00 мск.

В ходе вебинара Вы узнаете:

  • Каковы общие принципы метода рефлектометрии, чем данный метод отличается от других способов определения толщины пленок и покрытий, таких как эллипсометрия, профилометрия и т.д.
  • Как мгновенно можно проанализировать толщину пленок и покрытий при помощи метода рефлектометрии для решения различных задач полупроводниковой промышленности, микроэлектроники, медицины, материаловедения, полимерной промышленности
  • Как решения от KLA (Filmetrics) позволяют определять отражающую способность покрытий, картировать толщину пленки по поверхности материала, проводить определение толщины пленки in situ в процессе ее нанесения

Вебинар пройдет на русском языке. Ведущая вебинара – Неудачина Вера Сергеевна, к.х.н., руководитель направления «Анализ поверхности и наноструктур» Intertech Corporation.

Для регистрации участия в вебинаре пройдите по ссылке

Вебинар проводится на платформе Zoom.

 


« вернуться


About usAnalytical equipmentLIMS SolutionsSupportProjectsContactsMap
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design