На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
advanced search
Английская версия сайта Русская версия сайта
Elemental analysis Molecular analysis Surfaces and Nanostructures Thermal analysis and rheology Environmental air and stack emission monitoring Industrial process analisys and monitoring

Семинар по аналитическому оборудованию для микроэлектроники

Последние новости
[19.04.2019]
Участие в выставке "КомпозитЭкспо-2019" 23-25 апреля 2019 г.
Читать далее»
[16.04.2019]
Выставка "Аналитика Экспо-2019" 23-26 апреля 2019 г.
Читать далее»
[21.03.2019]
Семинар по аналитическому оборудованию для микроэлектроники
Читать далее»
[18.03.2019]
Обучающий семинар по атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Читать далее»
[11.03.2019]
Курс повышения квалификации по реологии
Читать далее»
[06.03.2019]
С наступающим 8 марта!
Читать далее»
[22.02.2019]
Поздравляем с 23 февраля!
Читать далее»
[15.02.2019]
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
02.07.2019 - 05.07.2019
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
22.05.2019 - 24.05.2019
Курс повышения квалификации по реологии
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
20.05.2019 - 29.05.2019
Обучающий семинар по АЭС-ИСП (iCAP 6000 / iCAP 7000)
г. Санкт-Петербург, Институт Гипроникель
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[21.03.2019]

Семинар по аналитическому оборудованию для микроэлектроники

Семинар по микроэлектронике

Уважаемые специалисты микроэлектроники, полупроводниковой промышленности и смежных отраслей!

Приглашаем Вас принять участие в работе научно-практического семинара "Аналитическое оборудование для решения задач микроэлектроники", который будет проходить совместно с компанией СИНЕРКОН, и состоится 11 апреля 2019 г. в Зеленограде.

Адрес проведения: Зеленоград, ул. Юности, д. 8 -  Инновационный кластер "Техноюнити", 11 этаж, зал для мероприятий 

Семинар посвящен аналитическому оборудованию для проведения исследований и контроля качества в микроэлектронике и полупроводниковой промышленности. В ходе семинара будут проведены презентации оптических микроскопов, ИК-Фурье и Раман спектрометров и микроскопов, профилометров, наноинденторов, измерительных микроскопов, анализаторов толщин многослойных покрытий, атомно-силовых микроскопов ведущих мировых производителей с многочисленными примерами их использования для решения конкретных задач, связанных с микроэлектроникой.

Программа семинара »

Участие в семинаре – бесплатное.

Для участия в семинаре необходимо до 8 апреля 2019 г. (включительно) заполнить на каждого участника электронную регистрационную форму по ссылке

Контактные лица организаторов семинара:

  • Неудачина Вера Сергеевна, к.х.н. / руководитель направления “Анализ поверхности и наноструктур” компании INTERTECH Corporation, 8-800-200-4225, моб. (916) 529-8385, vsn@intertech-corp.ru
  • Юсупов Артур Аббасович / руководитель отдела микроскопии и твердометрии ООО “СИНЕРКОН”, 8-495-741-5904, моб. (915) 021-1715, yaa@synercon.ru

До встречи на семинаре!

Скачать файл

« вернуться


About usAnalytical equipmentLIMS SolutionsSupportProjectsContactsMap
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design