На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
advanced search
Английская версия сайта Русская версия сайта
Elemental analysis Molecular analysis Surfaces and Nanostructures Thermal analysis and rheology Environmental air and stack emission monitoring Industrial process analisys and monitoring

Вебинар по оптической профилометрии

Последние новости
[10.07.2018]
Термоанализатор Discovery SDT 650 внесен в Госреестр СИ
Читать далее»
[26.06.2018]
Конференции по материаловедению
Читать далее»
[15.06.2018]
Курс повышения квалификации по термоанализу 2018. Фотоотчет
Читать далее»
[25.05.2018]
Поздравляем специалистов химической и смежных отраслей с наступающим праздником!
Читать далее»
[23.05.2018]
Новый ГОСТ по термоанализу полимерных материалов
Читать далее»
[07.05.2018]
ИК приставка внешнего отражения ConservatIR
Читать далее»
[27.04.2018]
Online конференция по материаловедению 16 мая 2018 г.
Читать далее»
[26.04.2018]
Прием заявок на курс по термоанализу 05-08 июня 2018 г.
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
25.09.2018 - 28.09.2018
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[30.03.2018]

Вебинар по оптической профилометрии

Вебинар по оптической профилометрии

Приглашаем специалистов по исследованию поверхности принять участие в вебинаре 12 апреля, в четверг, в 11.00 (мск) «Технология ZDot: оптическая профилометрия без ограничений».

Вебинар посвящен уникальной запатентованной технологии ZDot, которая позволяет снять традиционные ограничения использования оптической профилометрии и при этом получить полноцветное изображение поверхности материалов. В ходе вебинара будет подробно рассмотрена сама технология, многочисленные примеры ее применения, а также оборудование на основе данной технологии (производитель – Zeta Instruments, подразделение KLA-Tencor).

Данный вебинар будет интересен специалистам по исследованиям и разработке новых материалов, в том числе в микроэлектронике, инженерам и метрологам производства светодиодов, солнечных модулей, МЭМС, печатных плат и т.д.

В отличие от обычных оптических профилометров-интерферометров, профилометры на основе технологии ZDot позволяют эффективно работать с:

  • прозрачными и многослойными пленками и покрытиями
  • материалами с низкой отражающей способностью и низким контрастом
  • материалами с высокими значениями шероховатости
  • материалами с большими перепадами высот
  • глубокими канавками и отверстиями с высоким аспектным отношением

Посетите наш вебинар, чтобы узнать, как!

Регистрация на вебинар » 

Вебинар проведет Неудачина Вера Сергеевна, руководитель направления «Анализ поверхности и наноструктур», к.х.н.

Узнать больше о 3D оптических профилометрах Zeta Instruments »


« вернуться


About usAnalytical equipmentLIMS SolutionsSupportProjectsContactsMap
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design