На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
advanced search
Английская версия сайта Русская версия сайта
Elemental analysis Molecular analysis Surfaces and Nanostructures Thermal analysis and rheology Environmental air and stack emission monitoring Industrial process analisys and monitoring

Вебинар по оптической профилометрии

Последние новости
[04.10.2018]
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии 2018. Фотоотчет
Читать далее»
[20.09.2018]
Выставка "Экватэк 2018" 25-27 сентября в Крокус Экспо
Читать далее»
[14.09.2018]
Расширение линейки наноинденторов KLA-Tencor
Читать далее»
[11.09.2018]
Семинар по термоанализу и реологии в Санкт-Петербурге
Читать далее»
[10.09.2018]
XIII Международный водный форум "Экватэк-2018" 25-27 сентября 2018 г.
Читать далее»
[07.09.2018]
Вебинар по атомно-силовой микроскопии в фотовольтаике
Читать далее»
[24.08.2018]
Выставка "Интерпластика. Казань 2018"
Читать далее»
[10.08.2018]
Обучающий семинар по ИСП-МС в г. Санкт-Петербурге
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[30.03.2018]

Вебинар по оптической профилометрии

Вебинар по оптической профилометрии

Приглашаем специалистов по исследованию поверхности принять участие в вебинаре 12 апреля, в четверг, в 11.00 (мск) «Технология ZDot: оптическая профилометрия без ограничений».

Вебинар посвящен уникальной запатентованной технологии ZDot, которая позволяет снять традиционные ограничения использования оптической профилометрии и при этом получить полноцветное изображение поверхности материалов. В ходе вебинара будет подробно рассмотрена сама технология, многочисленные примеры ее применения, а также оборудование на основе данной технологии (производитель – Zeta Instruments, подразделение KLA-Tencor).

Данный вебинар будет интересен специалистам по исследованиям и разработке новых материалов, в том числе в микроэлектронике, инженерам и метрологам производства светодиодов, солнечных модулей, МЭМС, печатных плат и т.д.

В отличие от обычных оптических профилометров-интерферометров, профилометры на основе технологии ZDot позволяют эффективно работать с:

  • прозрачными и многослойными пленками и покрытиями
  • материалами с низкой отражающей способностью и низким контрастом
  • материалами с высокими значениями шероховатости
  • материалами с большими перепадами высот
  • глубокими канавками и отверстиями с высоким аспектным отношением

Посетите наш вебинар, чтобы узнать, как!

Регистрация на вебинар » 

Вебинар проведет Неудачина Вера Сергеевна, руководитель направления «Анализ поверхности и наноструктур», к.х.н.

Узнать больше о 3D оптических профилометрах Zeta Instruments »


« вернуться


About usAnalytical equipmentLIMS SolutionsSupportProjectsContactsMap
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design