На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
advanced search
Английская версия сайта Русская версия сайта
Lab equipment Elemental analysis Molecular analysis Surfaces and Nanostructures Thermal analysis and rheology Environmental air and stack emission monitoring Industrial process analisys and monitoring

Вебинар по ИК микроскопии 27 июля 2017 г.

Последние новости
[17.07.2019]
Анонс дополнительного курса по ИК спектроскопии
Читать далее»
[15.07.2019]
Фотоотчет прошедшего курса по ИК спектроскопии
Читать далее»
[24.06.2019]
Анализаторы толщины пленок Filmetrics (KLA)
Читать далее»
[03.06.2019]
Курс повышения квалификации по реометрии. Фотоотчет
Читать далее»
[23.05.2019]
С наступающим Днем химика!
Читать далее»
[19.04.2019]
Участие в выставке "КомпозитЭкспо-2019" 23-25 апреля 2019 г.
Читать далее»
[16.04.2019]
Выставка "Аналитика Экспо-2019" 23-26 апреля 2019 г.
Читать далее»
[21.03.2019]
Семинар по аналитическому оборудованию для микроэлектроники
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
15.10.2019 - 18.10.2019
Дополнительный курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
НИТУ "МИСиС", г. Москва
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 



[24.07.2017]

Вебинар по ИК микроскопии 27 июля 2017 г.

ИК микроскопия частиц износа

В процессе эксплуатации машин / механизмов в результате абразивного износа деталей или термической деградации прилегающих жидкостей (смазки, топливо и т.д.) могут появляться частицы размером 20-100 микрон. Характеризация данных частиц является важнейшим шагом в определении их происхождения и места возникновения.

Самый простой аналитический метод предполагает фильтрацию с последующим изучением с помощью оптической микроскопии. Метод ИК микроскопии позволяет идентифицировать материалы, значительно расширив возможности диагностики. В рамках вебинара, который состоится 27 июля, будет представлено применение метода ИК микроскопии для экспресс-анализа идентификации микрочастиц износа.

Докладчик: Michael Bradley, Ph.D, Senior Manager, вед. специалист по применению методов ИКС, КР и БИК компании Thermo Fisher Scientific.

Вебинар на англ. языке.

Ссылка для регистрации на вебинар »


« вернуться


About usAnalytical equipmentLIMS SolutionsSupportProjectsContactsMap
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design