На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
advanced search
Английская версия сайта Русская версия сайта
Lab equipment Elemental analysis Molecular analysis Surfaces and Nanostructures Thermal analysis and rheology Environmental air and stack emission monitoring Industrial process analisys and monitoring
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияАнализаторы толщины пленок FilmetricsСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

РФЭ и Оже-спектрометры - K-Alpha+

Производители
Thermo Fisher Scientific

Ближайшие семинары
02.07.2019 - 05.07.2019
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


K-Alpha+


Производитель: Thermo Fisher Scientific
Области применения: Добыча и переработка сырья
Криминалистика
Микроэлектроника
Наука
Материаловедение
Анализ покрытий
Нефтехимия и нефтепереработка
Химическая промышленность
Нанолитография
Полимерная отрасль
РФЭС спектрометр K-Alpha+
Увеличить

К-ALPHA+ – полностью интегрированный РФЭ спектрометр. Максимально компактный и простой в обращении прибор, сочетающий разумную цену с высокой функциональностью. Все процессы максимально автоматизированы, все операции проводятся без вмешательства пользователя (за исключением загрузки образца). Система укомплектована ионной пушкой с функцией зарядовой нейтрализации. 128-канальный анализатор для картирования поверхности с высоким разрешением. Автоматическое создание отчёта.

Прекрасные возможности для проведения анализа, низкая стоимость и компактные размеры сделали K-Alpha+ идеальным решением как для традиционных, так и для новых областей применения анализа поверхности. Всего за год существования на рынке прибор приобрел чрезвычайную популярность и широко используется в биомедицинских лабораториях и центрах исследования наноматериалов по всему миру.

Конфигурация

Микрофокусный монохроматизированный источник рентгеновского излучения для быстрого и эффективного проведения анализа

  • Определение химических состояний элементов
  • Возможность непрерывного изменения анализируемой площади (от больших площадей до 30 мкм)
  • Неразрушающий анализ
  • Простота позиционирования пятна на поверхности
  • Картирование поверхности, возможность сканирования вдоль линии с микронным разрешением

Электронная оптика последнего поколения, обеспечивающая максимальную точность и высокую интенсивность

  • Новейшая конструкция линз
  • Анализатор высокого разрешения
  • Получение данных как в параллельном режиме, так и в режиме сканирования
  • Режим снимка для быстро картирования поверхности и профилирования по глубине
  • Превосходные пределы обнаружения для РФЭС

Точное позиционирование образца для большей уверенности в получаемых результатах

  • Максимальная точность позиционирования образца
  • Уникальная система подсветки
  • Запатентованная система наблюдения за образцом (используются 3 камеры)
  • Система отражающей оптики для выбора области анализа

 Новейшая ионная пушка для эффективного распылительного профилирования

  • Оптимальная скорость травления
  • Режим низкоэнергетических электронов
  • Возможность вращения образца
  • Режим высокого тока для повышения скорости травления
  • Автоматическая настройка и юстировка

Новая система компенсации заряда для исследования непроводящих образцов

  • Возможность получения спектров высокого разрешения
  • Исследование любого типа образцов
  • Анализ больших и малых площадей поверхности
  • Не требуется вмешательства пользователя

Геометрия всех компонентов аналитического оборудования была учтена для оптимизации работы прибора. Схема расположения компонентов представлена на рисунке 3. Система обладает несколькими важными особенностями:

- ось промежуточной линзы перпендикулярна поверхности образца, что обеспечивает максимальную эффективность сбора данных;

- оптика Reflex всегда обеспечивает линейное изображение анализируемого образца, также перпендикулярно поверхности образца. Это обеспечивает наилучшие условия для наиболее точного определения позиции образца;

- камера для установки высоты позволяет точно определить правильное положение образца при анализе малых площадей и правильную высоту для достижения оптимальной чувствительности;

- рентгеновское излучение проходит через фокусирующий монохроматор. Это позволяет пользователю определить площадь анализа и обеспечивает максимальную чувствительность при анализе малых площадей;

- новая ионная пушка позволяет получать профили распределения концентрации по глубине с отличным разрешением. Она направляет пучок низкоэнергетических ионов в точку малого диаметра, в результате чего достигается хорошее разрешение при высокой скорости анализа;

- новый нейтрализатор разработан таким образом, что пользователю нужно только включить его, если требуется провести анализ изоляторов - не требуется какой-либо дополнительной юстировки или оптимизации;

- подсветка образца крайне важна для получения высококачественного изображения образца в реальном времени. Система K-Alpha+ оборудована осветителями двух типов. Один дает коаксиальное освещение для оптики Reflex, идеальное для образцов с гладкой поверхностью. Другой источник света дает неосевое освещение, которое идеально подходит для образцов с шероховатой поверхностью.

Аналитическая камера изготовлена из цельного куска сплава никеля с железом. Это обеспечивает отличное экранирование. Точность изготовления сводит к минимуму необходимость юстировки компонентов. Для прокачки используется турбомолекулярный насос в комбинации со роторным форвакуумным и сублимационным насосами.

Архитектура системы K-Alpha+

 

 

Картирование поверхности - определение распределения компонентов

Многоканальный детектор в системе K-Alpha+ позволяет мгновенно получать спектры высокого разрешения. Это означает, что спектр можно получить для каждой точки изображения. К каждой точке также можно применить все функции обработки данных программного обеспечения Avantage, включая функцию аппроксимации спектров и учета фона. Это позволяет пользователю получать количественные карты распределения элементов в различных химических состояниях по поверхности, аналогичные представленной на рисунке ниже. Более подробную информацию Вы можете получить у наших специалистов.

 


 

Картирование поверхности: (а) карта распределения атомов углерода в состоянии, отвечающем связи C-H, (b) связи С-F.

 

Распылительное профилирование

Система K-Alpha+ оборудована новой ионной пушкой, которая особенно эффективна при низких энергиях. Это значит, что система может непрерывно генерировать профили распределения элементов по глубине с отличным разрешением даже для самых "трудных" образцов. В случае необходимости для получения оптимального разрешения по глубине можно использовать азимутальное вращение.

 

Профили распределения элементов по глубине для фрагмента рентгеновского зеркала, в котором слои чередуются через каждые 7 нм. Для получения профилей использованы ионы аргона с энергией 220 эВ.

 

Функция автоматического создания отчетов

Программное обеспечение Avantage позволяет отказаться от выполнения многих рутинных операций, связанных с проведением анализа. В нем имеется возможность автоматического создания отчетов. Отчет содержит изображения образцов и анализируемой области, все полученные спектры и таблицы количественных результатов для каждого из проанализированных образцов.

Функция автоматического проведения анализа

Система K-Alpha+ также использует функцию Auto-analyze. Благодаря этой опции пользователь может просто загрузить образцы и указать на изображении Platter View позиции для анализа. После этого прибор автоматически проведет следующие операции:

1)      откачка камеры ввода и перемещение образца в камеру анализа;

2)      регистрация обзорного спектра;

3)      идентификация элементов, присутствующих в обзорном спектре;

4)      получение количественных результатов;

5)   получение спектров высокого разрешения для идентифицированных элементов для определения их химических состояний;

6)     определение химических состояний для идентифицированных элементов и состава образца;

7)     переход к следующему образцу и повторение вышеуказанных операций, начиная с операции №2;

8)    создание отчета после завершения анализа последнего образца;

9)    возврат образцов в манипулятор. Теперь можно загрузить в прибор новый комплект образцов.


Назад


About usAnalytical equipmentLIMS SolutionsSupportProjectsContactsMap
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design