На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
advanced search
Английская версия сайта Русская версия сайта
Lab equipment Elemental analysis Molecular analysis Surfaces and Nanostructures Thermal analysis and rheology Environmental air and stack emission monitoring Industrial process analisys and monitoring
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияАнализаторы толщины пленок FilmetricsСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования

РФЭ и Оже-спектрометры - Компоненты для систем, работающих в условиях СВВ

Производители
Thermo Fisher Scientific

Ближайшие семинары
02.07.2019 - 05.07.2019
Курс повышения квалификации по ИК спектроскопии
г. Москва, НИТУ "МИСиС", МГУ им. М.В. Ломоносова
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  


Компоненты для систем, работающих в условиях СВВ


Производитель: Thermo Fisher Scientific
Области применения: Наука
Анализ покрытий
Компоненты для систем, работающих в условиях СВВ

Диапазон поставляемых компонентов представлен следующими основными позициями:

Avantage

Программное обеспечение для получения и обработки данных

  • Используемая платформа - Windows 
  • Управление всеми компонентами спектрометра
  • Простота использования

XR3 - двуханодный рентгеновский источник

 

Высокоэмиссионный, лёгкий в обслуживании рентгеновский источник мощностью 400 Вт

  • Al и Mg аноды
  • Минимизирует паразитные пики (очень низкая перекёстная наводка (< 0.35 %), серебряная подложка)

XR5- микрофокусный рентгеновский монохроматор

Монохроматор на основе двойного кристалла, использующий микросфокусированную электронную пушку. Максимальная чувствительность при анализе малых областей.

  • Непревзойдённое разрешение для РФЭС
  • Размер области анализа задаётся путем фокусировки падающего излучения
  • Анод перемещается для продления срока службы

UVL - источник УФ излучения высокой интенсивности

Источник со встроенной системой наклона, позволяет облучать УФ излучением участки малой площади

  • Высокая интенсивность излучения
  • Режимы He I и He II
  • Двухуровневая дифференциальная откачка

FEG1000 - электронная пушка с полевой эмиссией

Электронная пушка высокого разрешения для проведения Оже-электронной спектроскопии, Оже-электронной микроскопии, а также растровой электронной микроскопии.

  • Размер пятна < 95 нм
  • Высокая плотность тока
  • Возможность построения изображений Оже-электронной микроскопии и растровой электронной микроскопии

EX05 - ионная пушка с дифференциальной откачкой

Высокоэффективная пушка для получения точных результатов распылительного профилирования

  • Высокоточные результаты распылительного профилирования
  • Диапазон энергий ионов 100 эВ - 5 keV
  • Может быть использована в качестве источника ионов для ВИМС
  • Позволяет проводить анализ при помощи спектроскопии ионного рассеяния  (ISS)
  • Нейтрализация заряда

EX03 - ионная пушка для очистки поверхности образца

Пушка перекрёстной ионизации для очистки поверхности большой площади и распылительного профилирования

  • Возможность облучения больших площадей поверхности
  • Диапазон энергий 300 эВ - 3 кэВ
  • Компактное исполнение

 

За более полной технической информацией, а также по любым иным вопросам, пожалуйста, обращайтесь в офис компании Intertech Corporation.

 

 


Назад


About usAnalytical equipmentLIMS SolutionsSupportProjectsContactsMap
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design