На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
advanced search
Английская версия сайта Русская версия сайта
Lab equipment Elemental analysis Molecular analysis Surfaces and Nanostructures Thermal analysis and rheology Environmental air and stack emission monitoring Industrial process analisys and monitoring
Оптические и стилусные профилометрыНаномеханические испытанияРФЭ и Оже-спектрометрыСистемы микроанализа для электронных микроскоповСубмикронная ИК-спектроскопияСканирующая зондовая микроскопияАнализаторы толщины пленок FilmetricsСтандарты для калибровки оборудования для исследования поверхностиЗонды АСМ Виброзащита высокоточного оборудования
Анализ поверхности и наноструктур -

анализаторы толщины пленок filmetrics

В данном разделе Вы найдёте информацию о самых разнообразных приборах, которые используются во многих отраслях науки и промышленности (сканирующие зондовые микроскопы (СТМ, АСМ), электронные спектрометры (РФЭС, ОЭС, УФЭС), профилометры, интерферометры и т.д.)

Совокупность таких систем позволяет решить любую исследовательскую задачу, направленную на всесторонний анализ свойств материала. Все исследовательские инструменты, представленные в данном разделе, могут быть использованы для исследования материалов на нанометрическом уровне.

Приборы Intertech Corporation позволяют проводить современные инновационные исследования и разработки на высочайшем уровне.

 

 

Производители
Ближайшие семинары
22.07.2020 - 22.07.2020
Программа Trade-in для пользователей ИК-Фурье спектрометров Thermo Scientific
Online, 11.00 мск.
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
Анализ поверхности и наноструктур
 


задать вопрос менеджеру  

В 2019 году компания KLA, мировой лидер в производстве аналитического и инспекционного оборудования для полупроводниковой промышленности и микроэлектроники, приобрела компанию Filmetrics – производителя систем измерения толщины пленок на основе рефлектометрии и бюджетных оптических профилометров.

В линейке анализаторов толщины пленок представлены разнообразные модели – от простых моделей для измерений в одной точке до автоматизированных систем, предназначенных для картирования поверхности. Кроме того, имеются специальные модели анализаторов для встраивания в системы напыления и иные производственные единицы.

Работа анализаторов (определителей) толщины Filmetrics основана на методе спектрального отражения (рефлектометрии)

Измеряя спектр света, отраженного от границы раздела прозрачной пленки и подложки, можно рассчитать толщину пленки по указанной формуле.

Для каких задач и объектов предназначены анализаторы толщины пленок Filmetrics?

  • Прозрачные (в видимом, ближнем ИК или УФ диапазонах) пленки толщиной от нескольких нм до единиц мм.
  • С известным коэффициентом преломления (метод не позволяет анализировать толщину пленок неизвестного состава)
  • Пленки на плоских или изогнутых поверхностях (включая линзы, лампы, оптические изделия)   

В зависимости от модели анализатора и задачи может проводиться анализ в точке, картирование толщины пленки или анализ толщины при помощи оптического микроскопа. Богатый выбор различных аксессуаров делает данный метод максимально универсальным.

Анализаторы толщины позволяют не только определять толщину пленок, но и измерять поглощение или пропускание в выбранном диапазоне (например, для анализа антиотражающих покрытий в оптике).

Отличительные черты анализаторов толщины Filmetrics:

  • Невысокая стоимость
  • Надежность и воспроизводимость измерений
  • Модульная структура (возможность использовать разные источники и детекторы в подходящей комбинации)
  • Простота (не требуют отдельной инсталляции, настройка занимает буквально 5 минут после удаления упаковки прибора)
  • Интуитивно понятное программное обеспечение
  • Бесплатные онлайн-видео по настройке, запуску и использованию оборудования
  • Поддержка 24/7 в онлайн-режиме 

 

Основные модели анализаторов толщины пленок Filmetrics:

Для точечных измерений

F20 – самая популярная базовая модель анализатора толщины

F3-sX – анализатор толщины полупроводников и диэлектриков

F3-CS – для небольших образцов

F10AR – анализатор толщины для изогнутых поверхностей и линз

F10ARc – компактный анализатор для изогнутых поверхностей

F10-RT – для одновременного определения пропускания и отражающей способности

Малый размер пятна

F40 – анализатор для встраивания в оптический микроскоп

Автоматизированное картирование

F50 – автоматизированная система картирования для пластин до 450 мм

F54 – картирование пластин с малым размером пятна

F60t – система автоматического картирования для производственных условий

In situ анализаторы для контроля качества в производственных линиях

F30 – мощный инструмент для in situ мониторинга роста пленок

F32 – компактная система для in situ измерений

 

F20

Анализатор толщины пленок  F20 Filmetrics
Базовая модель анализатора толщины Filmetrics
F3-sX

Анализатор толщины полупроводников и диэлектриков
F3-CS

Анализатор толщины для небольших образцов
F10-AR

Анализатор толщины для изогнутых поверхностей и линз
F10-ARc

Компактный анализатор толщины для изогнутых поверхностей
F10-RT

Анализатор толщины для одновременного определения пропускания и отражающей способнсти
 


страницы:  [ 1 ] [ 2 ]


About usAnalytical equipmentLIMS SolutionsSupportProjectsContactsMap
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design