На главную 8-800-200-42-25
info@intertech-corp.ru
service@intertech-corp.ru
 
advanced search
Английская версия сайта Русская версия сайта
Lab equipment Elemental and isotopic analysis Molecular analysis Surfaces and Nanostructures Thermal analysis and rheology Environmental air and stack emission monitoring Industrial process analisys and monitoring

Вебинар по кантилеверам для атомно-силовой микроскопии 30 июня

Последние новости
[29.09.2021]
Новый термомеханический анализатор с камерой влажности TMA 450 RH
Читать далее»
[15.09.2021]
Discovery TMA 450 и Discovery TMA 450EM в Реестре СИ
Читать далее»
[14.09.2021]
Обновленный анализатор температуропроводности Discovery Xenon Flash 200+
Читать далее»
[23.08.2021]
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
Читать далее»
[29.07.2021]
Новый сорбционный гравиметрический анализатор Discovey SA
Читать далее»
[12.07.2021]
Мини-конференция по проблемам наноиндентирования
Читать далее»
[08.07.2021]
Отчет о прошедшем курсе повышения квалификации по ИК спектроскопии
Читать далее»
[24.06.2021]
Вебинар по кантилеверам для атомно-силовой микроскопии 30 июня
Читать далее»
...История новостей
Ближайшие семинары
19.10.2021 - 22.10.2021
Курс повышения квалификации по методам термического анализа
г. Москва, НИТУ "МИСиС"
Читать далее»
Больше семинаров


Новые разработки
Элементный анализ
Молекулярный анализ
Термоанализ и реология
 



[24.06.2021]

Вебинар по кантилеверам для атомно-силовой микроскопии 30 июня

Приглашаем принять участие в вебинаре «Выбор кантилеверов для атомно-силовой микроскопии: от микроэлектроники до биологических задач» в среду, 30 июня 2021 г., в 11.00 по московскому времени.

В ходе вебинара Вы узнаете:

  • Как устроены кантилеверы и какие физические характеристики и процессы лежат в основе их использования
  • Каковы основные параметры кантилеверов
  • Как выбрать подходящие параметры кантилеверов в зависимости от типа исследуемых образцов
  • Примеры выбора кантилеверов для решения различных задач (топография поверхности, наномеханические свойства, электрофизические и магнитные измерения и т.д.)

Вебинар пройдет на русском языке. Ведущая вебинара – Неудачина Вера Сергеевна, к.х.н., руководитель направления «Анализ поверхности и наноструктур» Intertech Corporation.

Для регистрации участия в вебинаре пройдите по ссылке

Вебинар проводится на платформе Zoom.

 


« вернуться


About usAnalytical equipmentLIMS SolutionsSupportProjectsContactsMap
Тел/факс:(495)232-4225
E-mail:info@intertech-corp.ru
Политика кофиденциальности Создание сайта Wilmark Design